找到 20 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 功率模块 可靠性分析 热仿真 ★ 5.0

高可靠性、低成本瞬态液相键合用于功率模块大面积互连

High-Reliability and Cost-Efficient Transient Liquid Phase Bonding for Large-Area Interconnects in Power Modules

Yuzhi Ouyang · Junliang Lu · Haidong Yan · Sihui Hong 等5人 · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2025年7月 · Vol.16

本研究采用多孔Cu-Sn基焊料实现瞬态液相键合(TLP),显著缩短工艺时间并形成高熔点IMC稳定接头;优化参数下剪切强度达49.2 MPa,室温热导率达112.3 W/(m·K);经1000次热冲击后强度保持率超82%,验证其在功率模块中长期高可靠性。

解读: 该TLP键合技术可直接提升阳光电源组串式逆变器、ST系列PCS及PowerTitan储能系统的功率模块封装可靠性与热管理性能。多孔Cu-TLP工艺替代传统烧结银,降低成本并增强高温循环稳定性,特别适用于高温工况下的1500V+高压平台产品。建议在下一代SiC基组串逆变器和液冷型PowerStack模...

功率器件技术 SiC器件 强化学习 ★ 5.0

一种物理信息辅助的深度强化学习方法用于大规模TSV阵列的信号与电源完整性优化

A Physics-Assisted Deep Reinforcement Learning Methodology for Signal and Power Integrity Optimization of Large-Scale TSV Arrays

Bingheng Li · Ling Zhang · Hanzhi Ma · Li Jiang 等6人 · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2025年5月

高带宽内存(HBM)中硅通孔(TSV)阵列的信号完整性(SI)和电源完整性(PI)优化对于提高系统可靠性至关重要。然而,以往的研究大多侧重于单独的 SI 或 PI 优化,尚未实现具有良好收敛性的 SI/PI 优化。基于 TSV 阵列 SI/PI 优化的物理机制,本文提出了一种新颖的物理辅助深度强化学习(DRL)方法。开发了一种分治策略来处理大规模 TSV 阵列。利用物理机制设计 DRL 方法的细节,从而将不同的优化场景(SI 优化、PI 优化和 SI/PI 协同优化)统一到一个单一的过程中,设计...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于物理辅助深度强化学习的硅通孔(TSV)阵列信号与电源完整性优化技术,对我们的高功率密度产品开发具有重要参考价值。 在光伏逆变器和储能变流器领域,功率半导体模块的集成度不断提升,多芯片封装和3D集成技术正成为提高功率密度的关键路径。该论文针对高带宽存储器中TSV阵列...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

基于局域接触电势探测的运行中SiC功率MOSFET内部电场分布研究

Anatomy of internal electric field profile in operating SiC power MOSFETs with local contact potential probing

Mingsheng Fang · Yan Liu · Ting Zhang · Dandan Wang 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年4月 · Vol.126

本文利用局域接触电势探测技术,对工作状态下的碳化硅(SiC)功率MOSFET内部电场分布进行了高分辨率表征。通过开尔文探针力显微镜(KPFM)在器件动态运行条件下直接映射其表面电势与内部电场空间分布,揭示了栅极边缘与沟道区域附近的电场集中现象及其随偏置条件演变的规律。研究结果阐明了关键电场分布特征与器件可靠性、击穿机制之间的关联,为优化SiC MOSFET结构设计和提升器件性能提供了实验依据。

解读: 该研究对阳光电源的SiC器件应用具有重要指导意义。通过KPFM技术揭示的电场分布特征,可直接指导SG系列高功率密度光伏逆变器和ST系列储能变流器中SiC MOSFET的选型与应用。特别是对栅极边缘与沟道区域的电场集中现象的深入理解,有助于优化器件驱动电路设计,提升产品可靠性。这些发现可用于改进Pow...

功率器件技术 GaN器件 ★ 5.0

集成n型和p型铁电有机晶体管的互补式存内逻辑反相器

Complementary logic-in-memory inverters integrating n-channel and p-channel ferroelectric organic transistors

Haitian Wei · Yijie Lin · Zhenxiang Yan · Wenfa Xie 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年2月 · Vol.126

本文报道了一种基于n型和p型铁电有机薄膜晶体管的互补式存内逻辑反相器。通过在同一器件中集成具有稳定极化特性的n沟道与p沟道铁电有机晶体管,实现了非易失性存储与逻辑运算功能的协同集成。该反相器展现出良好的开关特性、清晰的逻辑输出以及低功耗操作能力。研究为实现高性能有机存内计算电路提供了可行路径,并推动了柔性、可穿戴电子器件中智能信息处理技术的发展。

解读: 该铁电有机晶体管存内逻辑技术对阳光电源智能控制系统有重要启发价值。其非易失性存储与逻辑运算的协同集成特性,可应用于ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器的控制器升级,实现更快速的MPPT追踪和系统响应。特别是在PowerTitan大型储能系统中,该技术有望优化电力调度策略的本地计算效率,降低控制延时...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

基于开源数据库的功率变换器铁芯损耗预测

Predicting core losses in power converters based on open source database

Yan Zhou · Minmin Zhang · IET Power Electronics · 2025年2月 · Vol.18

提出一种基于开源数据库与数据驱动物理模型的铁芯损耗预测方法。该方法针对特定预测点,可自动执行流程中的两条路径,提升预测效率与准确性。通过整合实测数据与物理建模,实现对不同工况下功率变换器磁性元件损耗的精确估计,为电力电子系统设计与优化提供有效支持。

解读: 该铁芯损耗预测技术对阳光电源的功率变换器产品线具有重要应用价值。首先可用于SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的高频变压器设计优化,通过精确预测不同工况下的铁芯损耗,提升变换效率。其次可应用于车载OBC和充电桩等新能源汽车产品的磁性元件设计,基于开源数据库快速评估不同磁芯材料的损耗特性。该方法结合...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

考虑非光滑约束的数据-物理混合驱动配电网线性潮流

Data-Physical Hybrid Driven Distribution Network Linear Power Flow Considering Non-Smooth Constraints

Yuntao Ju · Tianlei Zhang · Lei Wang · Yan Huang 等6人 · IEEE Transactions on Industry Applications · 2024年9月

摘要:现有线性潮流(LPF)模型未考虑电压源换流器(VSC)和有载调压变压器(OLTC)包含运行限值和死区的非光滑约束特性,这限制了其应用。为此,提出一种考虑非光滑约束特性的配电网三相 LPF 模型。首先,利用光滑函数对非光滑约束特性进行有效拟合,得到连续可微的控制函数。然后,基于一阶泰勒级数展开对三相潮流方程进行物理线性化,并通过偏最小二乘法(PLS)得到误差补偿项。与未考虑非光滑约束的模型相比,考虑非光滑约束的三相 LPF 模型能够准确表征实际配电网中 VSC 和 OLTC 的运行特性,从而...

解读: 该研究对阳光电源的VSC型产品(如SG系列逆变器、ST系列储能变流器)具有重要参考价值。通过数据-物理混合建模方法,可优化产品在配电网中的电压调节性能,提升系统稳定性。特别是对于大型储能电站的PowerTitan系统,该方法有助于提高VSC的无功补偿精度和OLTC变压器的调压效果。研究成果可用于改进...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

高可靠性碳化硅紫外单光子雪崩二极管实现超过10000小时连续运行

Highly reliable SiC UV SPAD with over 10,000 hours of continuous operation

Yan Zhou · Xiaoqiang Tao · Tianyi Li · Dong Zhou 等6人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年12月

本研究设计并制作了一种具有分离式吸收 - 电荷 - 倍增结构的紫外(UV)4H - 碳化硅(SiC)单光子雪崩光电二极管(SPAD)。

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项4H-SiC基紫外单光子雪崩光电二极管(UV SPAD)技术具有重要的潜在应用价值。该器件实现了超过10,000小时的连续运行可靠性,这一突破性指标对我们的核心业务领域具有多维度的技术启示。 在光伏逆变器领域,SiC材料已成为功率器件的重要发展方向,而本研究展示的Si...

功率器件技术 SiC器件 GaN器件 ★ 4.0

通过多物理场发光成像显微技术实现氮化镓微米级发光二极管侧壁缺陷的高分辨率可视化

High-resolution visualization of sidewall defects in gallium nitride micro light-emitting diode via multi-physical field luminescence imaging microscopy

Jinjian Yan · Zhuoying Jiang · Linjue Zhang · Mengyu Chen · Applied Physics Letters · 2025年9月 · Vol.127

本研究提出一种基于多物理场耦合的发光成像显微技术,实现了氮化镓微米级发光二极管(μLED)侧壁缺陷的高分辨率可视化。通过结合电致发光、阴极发光及应变场分布成像,精确识别了刻蚀过程中引入的非辐射复合中心与晶格损伤区域。该方法可有效关联器件局域电学与光学特性退化与侧壁缺陷的分布特征,为空间分辨缺陷表征提供了新途径,并为提升μLED器件性能与可靠性提供了重要依据。

解读: 该μLED缺陷表征技术对阳光电源GaN功率器件的质量控制和可靠性提升具有重要参考价值。通过多物理场发光成像显微技术,可以精确识别GaN器件制造过程中的缺陷,这对提升SG系列逆变器和ST系列储能变流器中GaN功率模块的性能至关重要。特别是在高频化设计和高功率密度应用场景下,该技术有助于优化GaN器件的...

功率器件技术 功率模块 SiC器件 宽禁带半导体 ★ 4.0

沟槽栅功率硅MOSFET体二极管优化反向恢复模型

An Optimized Reverse Recovery Model of Trench Gate Power Si MOSFET Body Diode

Shuaiqing Zhi · Mingcheng Ma · Yanchen Pan · Yishun Yan 等6人 · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2025年9月 · Vol.14

针对沟槽栅Si MOSFET(U-MOSFET)体二极管在逆变器半桥中反向恢复阶段(RRS)因结电容非线性导致的电流/电压轨迹失真问题,提出基于Coss-V特性的优化反向恢复模型,显著提升RRS瞬态仿真精度,di/dt和损耗误差分别降低≥49.7%和73.8%。

解读: 该研究直接提升组串式光伏逆变器和ST系列储能变流器(PCS)中Si基功率模块的开关过程建模精度,尤其在低频硬开关工况下可优化死区时间设计、降低EMI与开关损耗。建议阳光电源在iSolarCloud平台的器件级数字孪生模型及PowerStack系统热-电协同仿真中集成该模型,增强对U-MOSFET体二...

功率器件技术 SiC器件 GaN器件 ★ 4.0

考虑速度饱和效应的基于物理的非线性电容模型

Physics-Based Nonlinear Capacitance Model Considering Velocity Saturation Effect

Shuman Mao · Xiang Su · Ruimin Xu · Bo Yan 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年6月

准确建模非线性电容对于基于物理的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)紧凑模型至关重要。对于传统方法而言,由于缺乏有效的边界电势模型,在非线性电容模型中往往难以实现电子速度饱和效应(VSE)的物理建模。本文基于准物理区域划分(QPZD)模型理论,提出了一种改进的电容建模方法,该方法将漂移 - 扩散区域内的速度饱和效应纳入其中。首先,推导了一个由速度饱和效应引起的沟道饱和区的偏置相关等效长度模型。然后将该模型集成到边界电势计算中,以充分考虑速度饱和效应。接着,通过在有效栅长模型和积分边界中全面考虑速...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项针对GaN HEMT器件非线性电容建模的研究具有重要的战略意义。氮化镓(GaN)功率器件凭借其高开关频率、低导通电阻和优异的热性能,正成为光伏逆变器和储能变流器等核心产品的关键技术方向。 该研究提出的基于速度饱和效应(VSE)的物理建模方法,通过准物理区域划分(QPZ...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

一种表征AlGaN/GaN HEMT多谐波色散效应的新方法

A Novel Method to Characterize Dispersion Effects in Multiharmonic for AlGaN/GaN HEMTs

Tianxiang Shi · Wenyuan Zhang · Yue Lei · Yan Wang · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年5月

本研究提出了一种表征氮化铝镓(AlGaN)/氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)多谐波色散效应的新方法,该色散效应包括陷阱效应和自热效应。在该方法中,设计了双脉冲测试以解耦表面和体陷阱效应以及自热效应,从而将陷阱态的表征从非工作区域扩展到工作区域。此外,还提出了相应的模型。陷阱模型考虑了不同位置的陷阱以及充放电的不对称时间常数。采用热子电路对自热效应进行建模。提出了一套完整的多谐波色散效应表征和参数提取流程。所提出的模型被集成到用于HEMT的高级SPICE模型(ASM - HEMT)中...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项针对AlGaN/GaN HEMT器件多谐波色散效应的表征方法具有重要的战略价值。GaN功率器件凭借其高频、高效、高功率密度的特性,正成为光伏逆变器和储能变流器等核心产品的关键技术方向。 该研究通过双脉冲测试方法解耦表面陷阱、体陷阱和自热效应,这对提升我司产品性能至关重...

功率器件技术 SiC器件 多物理场耦合 ★ 4.0

4H-SiC MOSFET电子辐照耦合短路特性的研究

A Study on Short Circuit Characteristics of 4H-SiC MOSFET Coupled With Electron Irradiation

Yan Chen · Yun Bai · Antao Wang · Leshan Qiu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2024年12月

本文研究了4H-碳化硅(SiC)MOSFET的电子辐照耦合短路(SC)特性。提出了电子辐照耦合的短路影响机制,并进一步研究了少数载流子寿命对辐照后器件短路特性的影响。采用2 MeV电子对4H-SiC MOSFET和4H-SiC晶圆进行辐照。分析了4H-SiC MOSFET静态参数的变化,并通过极限短路(LSC)测试方法研究了电子辐照耦合下4H-SiC MOSFET的短路特性。结果表明,辐照后,4H-SiC MOSFET的短路峰值电流增加了9.6%,临界短路失效时间(<inline-formula...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于4H-SiC MOSFET电子辐照耦合短路特性的研究具有重要的工程应用价值。SiC MOSFET作为我司光伏逆变器和储能变流器的核心功率器件,其可靠性直接影响系统的安全运行和全生命周期成本。 该研究揭示了电子辐照对SiC器件短路承受能力的退化机制:辐照后器件短路峰...

功率器件技术 功率模块 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 2.0

基于SU-8焊膜的铟凸点湿法回流工艺实现微LED键合

Bonding of micro LEDs using wet reflow process of indium bumps based on SU-8 solder mask

Shuangjia Bai · Taifu Lang · Xin Lin · Shuaishuai Wang 等8人 · Solid-State Electronics · 2026年6月 · Vol.234

本文研究采用SU-8光刻胶作为焊料掩膜,结合铟凸点湿法回流工艺实现微LED芯片的高精度、低损伤键合,提升互连可靠性与热管理性能。

解读: 该研究聚焦微尺度铟基互连与SU-8掩膜工艺,属先进封装与功率器件界面可靠性范畴,与阳光电源IGBT/SiC功率模块的焊料工艺、热界面材料优化及长期可靠性测试存在间接技术关联。虽不直接对应逆变器或PCS主电路设计,但可为ST系列PCS、组串式逆变器中高密度功率模块的低温键合、热应力抑制提供微纳级工艺参...

功率器件技术 功率模块 宽禁带半导体 热仿真 ★ 2.0

超薄镍薄膜的热激光蒸发制备与表征

Characterization of ultrathin nickel films deposited by thermal laser evaporation

David S. Catherall · Yifei Yan · Finley B. Donachie · Azmain A. Hossain 等5人 · Applied Physics Letters · 2026年2月 · Vol.128

本文报道了一种自制热激光蒸发系统制备超薄镍薄膜的方法,采用1 kW连续光纤激光(1070 nm)在超高真空下加热镍靶至熔点附近实现蒸发,并对薄膜的表面粗糙度、成分及室温电学性能进行了系统表征。

解读: 该研究聚焦于镍薄膜的激光蒸发工艺与基础物性表征,属先进薄膜制备与材料物理范畴,与阳光电源核心产品(如组串式逆变器、ST系列PCS、PowerTitan中的功率模块封装、铜镍基底/电极/散热界面材料)无直接技术关联。但其激光精准控温、真空沉积及薄膜电导率/粗糙度表征方法,可间接启发功率模块中金属化层(...

功率器件技术 宽禁带半导体 功率模块 有限元仿真 ★ 2.0

高线性度背照式位置敏感探测器

High-Linearity Back-Illuminated Position-Sensitive Detector Enabled by Nonlinearity Analysis Methodology for 3-D Wavefront Sensor Integration

Xuetao Yan · Yetong Zhang · Siwei Sun · Xiangxu Meng 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2026年1月 · Vol.73

本文提出一种基于P+–P–N⁻结构的背照式PSD阵列,结合非线性物理建模与3D互连封装技术,实现0.5 μm位置分辨率、0.75%非线性、2.39 μs响应及<0.6%串扰,支持95.9 kHz采样与9.9°动态范围,显著超越传统SH波前传感器。

解读: 该研究聚焦天文自适应光学中的高速高精度光电探测器,涉及背照式结构、TCAD仿真、RDL/倒装封装等先进光电器件工艺,与阳光电源主营业务无直接关联。其非线性建模、多物理场耦合仿真方法可间接启发PCS或逆变器中高精度电流/电压传感模块的设计优化,但未涉及光伏逆变、储能变流或并网控制等核心场景,对ST系列...

功率器件技术 宽禁带半导体 GaN器件 SiC器件 ★ 2.0

基于各向异性Ga2O3/MgO异质外延结构的太阳盲紫外偏振成像光电探测器

Solar-Blind UV Photodetector Based on Anisotropic Ga2O3/MgO Heteroepitaxial Structure for Polarization Imaging

Ya-Jing Gu · Shan Li · Ying-Xu Wang · Jia-Qi Lu 等8人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2026年1月 · Vol.73

本文报道了一种基于β-Ga2O3(−102)//MgO(110)异质外延结构的太阳盲紫外偏振光电探测器,展现出超低暗电流(3.67×10⁻¹³ A)、高光电流/暗电流比(>1.23×10⁷)和高响应度(114.4 A/W@254 nm),并验证了其偏振成像能力。

解读: 该研究聚焦于β-Ga2O3宽禁带半导体光电探测器,属前沿功率/光电子器件基础研究,与阳光电源主营的光伏逆变器、储能PCS等系统级产品无直接关联。但其在紫外探测、高温/高辐射稳定性方面的进展,可为未来智能运维平台(如iSolarCloud)中极端环境下的设备状态光学监测模块提供潜在器件支撑,建议关注其...

功率器件技术 宽禁带半导体 GaN器件 功率模块 ★ 2.0

单片集成AlGaN基紫外事件传感器像素

Monolithic AlGaN-Based Ultraviolet Event Sensor Pixel

Yapeng Zhang · Xiaobo She · Xiang Wang · Yucheng Hou 等12人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年12月 · Vol.73

本文报道一种单片集成AlGaN紫外(275 nm)事件传感器像素,具备200 μs时间分辨率,峰值响应350 mV(7.8 mW/cm²),采用事件驱动机制,无需帧读出与外部处理,可扩展为UV事件相机阵列,适用于高速运动追踪与实时环境监测。

解读: 该研究聚焦AlGaN宽禁带光电器件,属半导体材料与传感层面创新,与阳光电源核心产品(如组串式逆变器、ST系列PCS、PowerTitan)无直接功能关联。但其在高可靠性、高温/强紫外环境下AlGaN器件工艺与封装经验,可间接支撑公司面向极端工况(如沙漠光伏电站、高海拔储能系统)的功率器件选型与热-光...

功率器件技术 ★ 2.0

Gate-First/Channel-Last Process for High-Performance a-IGZO Gate-All-Around Nanosheet FETs

Shipeng Wang · Chuanke Chen · Congyan Lu · Chen Gu 等18人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年12月 · Vol.47

This work demonstrated a high-performance gate-all-around (GAA) a-IGZO nanosheet transistor fabricated using a simplified gate-first, channel-last process. The key functional layers (gate insulator, channel) are deposited continuously in one low-temp...

功率器件技术 ★ 2.0

Drain Voltage-Controlled Ambipolarity in a van der Waals InSe/WSe2 Transistor

Hao Wu · Zhilin Ye · Ji Tang · Jiakang Shi 等5人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年12月 · Vol.47

Indium selenide (InSe) has emerged as a promising two-dimensional (2D) semiconductor, yet its n-type behavior limits applications in reconfigurable devices and CMOS technology. Here we report a non-destructive and reversible strategy for modulating c...

功率器件技术 ★ 2.0

Miniaturized ScAlN Bimorph MEMS Microphone With Windmill Structure Achieving 61.2 dB SNR

Chaoxiang Yang · Wenjuan Liu · Yaxin Wang · Liangyu Lu 等10人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年12月 · Vol.47

The demand for compact, lownoise acoustic transducers have motivated rapid advances in MEMS microphone technology. This work presents a high signal-to-noise ratio (SNR) piezoelectric MEMS microphone that utilizes a Sc ${}_{{0}.{1}}$ Al ${}_{{0}.{9}}$...