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观测二硫化钼薄膜作为超快光声换能器的飞秒激光损伤失效
Observing femtosecond laser damage failure of a MoS2 thin film as an ultrafast photoacoustic transducer
Zhen Yue · Feiyang Hou · Yuchen Yin · Yujie Wang 等9人 · Applied Physics Letters · 2026年2月 · Vol.128
本文利用飞秒激光泵浦-探测技术，研究55 nm厚MoS₂薄膜在超快光声换能应用中的激光损伤机制。测得激发阈值27.58 μJ/cm²、损伤阈值579.18 μJ/cm²；发现强光热效应导致晶格软化与界面退火，最终引发等离子体爆炸式纳米孔损伤。
解读: 该研究聚焦二维材料在极端光热条件下的失效机理，虽不直接涉及阳光电源主流产品（如组串式逆变器、ST系列PCS或PowerTitan），但其多物理场耦合建模、热致界面退火分析及损伤阈值量化方法，可迁移至光伏逆变器功率模块（如SiC/GaN器件）的瞬态热应力可靠性评估中。建议在下一代高功率密度ST系列PC...
耦合多物理场全耦合模型与优化原子通量散度仿真对铝互连电迁移的加速寿命试验与预测
Accelerated Life Test and Prediction of Electromigration in Aluminum Interconnects Coupling Multiphysics Full Coupled Model With Optimized Atomic Flux Divergence Simulation
Xueliang Wang · Shuo Feng · Tao Luo · Jinyuan Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2025年3月
随着微电子器件的小型化和高功率需求，封装结构中互连所承载的电流密度不断增加，并达到了电迁移（EM）失效的阈值。在本研究中，我们研究了铝（Al）互连在三种不同电流密度（1/3/5 MA/cm²）下电迁移过程中的微观结构演变和空洞形成情况，并提出了一种将全耦合理论与优化的原子通量散度法相结合的方法。研究结果如下。首先，对于集成电路中的互连，在一定温度范围内，电流密度是影响互连电迁移寿命的主要因素。随着电流密度的逐渐增加，热传递对电迁移的影响不可忽视。原子浓度梯度和应力梯度可以抑制电迁移失效。其次，互...
解读: 从阳光电源的业务视角来看，这项关于铝互连电迁移加速寿命测试与预测的研究具有重要的工程应用价值。在光伏逆变器和储能系统的功率电子器件中，铝互连作为关键的封装结构，直接承载着高密度电流传输任务。随着我们产品向高功率密度、小型化方向发展，特别是在1500V及以上高压系统中，互连结构面临的电流密度持续攀升，...