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排序:
功率器件技术
功率模块
宽禁带半导体
可靠性分析
★ 5.0
高温应用中功率半导体芯片烧结银互连的可靠性
Reliability of Ag Sintering for Power Semiconductor Die Attach in High-Temperature Applications
Fang Yu · Jinzi Cui · Zhangming Zhou · Kun Fang 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年9月
低温烧结银技术提供了一种无铅芯片连接方案,适用于300°C高温电力电子应用。本文研究了烧结银技术在Si和SiC芯片上的可靠性,涵盖了低电流厚膜基板及高电流直接覆铜(DBC)基板的应用场景,并探讨了无压与低压烧结工艺的影响。
解读: 随着阳光电源在光伏逆变器和PowerTitan/PowerStack储能系统中对高功率密度和高温工作环境的需求日益增长,SiC器件的应用已成为核心趋势。烧结银技术作为替代传统焊料的高可靠性互连方案,能显著提升功率模块在极端工况下的热循环寿命和导热性能。建议研发团队在下一代高压组串式逆变器及大功率储能...