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功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 3.0

低温电力电子中单极性功率半导体的热失控现象

The Thermal Runaway Phenomenon of Unipolar Power Semiconductors in Cryogenic Power Electronics

Julius Zettelmeier · Raffael Schwanninger · Martin März · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年9月

氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)和硅MOSFET在低温环境下导通损耗显著降低,因此在航空航天领域备受关注。然而,低温环境会导致一种此前被忽视的安全关键现象——热失控,本文对此进行了深入探讨。

解读: 该研究探讨了宽禁带半导体(GaN)在极端低温下的热失控机制,这对阳光电源未来探索高海拔、极寒地区(如高寒山区光伏电站或特殊环境储能项目)的电力电子设计具有参考意义。虽然目前阳光电源的主流产品(如PowerTitan、组串式逆变器)多运行于常规环境,但随着公司向航空电源或极端环境能源系统拓展,理解Ga...