找到 4 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 GaN器件 ★ 5.0

一种具有增强功率和线性性能的AlN/Al_x_Ga1-_x_N/GaN梯度沟道HEMT

An AlN/Al_x_Ga1-_x_N/GaN graded channel HEMT with enhanced power and linearity performance

Xiang Du · Can Gong · Yue Hao · Applied Physics Letters · 2025年2月 · Vol.126

本文报道了一种基于AlN/Al_x_Ga1-_x_N/GaN梯度沟道结构的高电子迁移率晶体管(HEMT),旨在提升器件的功率与线性性能。通过在沟道层引入Al组分渐变的Al_x_Ga1-_x_N缓冲结构,并结合超薄AlN插入层,有效调控了二维电子气分布,增强了载流子输运特性,同时降低了短沟道效应。实验结果表明,该器件在保持高开关比的同时,显著提高了击穿电压、最大电流密度及跨导峰值。此外,线性跨导和栅极电容特性的改善有效提升了器件的线性度与高频稳定性。该梯度沟道设计为高性能射频与功率放大器应用提供了...

解读: 该梯度沟道GaN HEMT技术对阳光电源的功率变换产品具有重要应用价值。通过AlN/AlGaN梯度结构提升的击穿电压和电流密度特性,可显著提高SG系列逆变器和ST系列储能变流器的功率密度。改善的线性度和高频特性有助于优化车载OBC和充电桩的EMI性能。该器件在高压大功率应用场景下的优异开关特性,可支...

功率器件技术 ★ 5.0

高功率密度矩阵谐振开关电容LED驱动器

High Power Density Matrix Resonant Switched-Capacitor LED Driver

Yijie Wang · Jingyang Tan · Wei Lu · Shouheng Han 等5人 · IEEE Transactions on Industry Applications · 2025年2月

随着 LED 光源技术的发展,其输出功率逐渐提高。更高功率的 LED 光源需要更大的散热元件,这对其他组件的效率和尺寸提出了更高要求。LED 驱动电路是照明系统的关键组成部分。为提高效率和工作频率,可采用谐振型变换器电路实现软开关操作,从而减小整体尺寸。本文提出一种矩阵谐振开关电容拓扑结构,以提高 LED 驱动器的功率密度。该设计采用模块化设计方式,可通过快速扩展模块灵活调整输出需求。除了通过扩展模块单元实现输出调节外,本文还基于所提出的拓扑结构提出了一种小范围调节输出电压的方法。无需扩展模块,...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这篇论文提出的矩阵谐振开关电容LED驱动技术展现了显著的跨领域应用价值。虽然该技术直接针对LED驱动场景,但其核心设计理念与我们在光伏逆变器和储能系统中追求的技术方向高度契合。 该拓扑的核心优势在于通过谐振软开关技术实现高功率密度和高效率,这与阳光电源在逆变器小型化、轻量...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

增强型GaN p型场效应晶体管中的极化增强电导

Polarization-enhanced conductivity in enhancement-mode GaN p-FET

Hengyuan Qi · Teng Li · Jingjing Yu · Jialin Duan 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年9月 · Vol.127

本文报道了一种通过极化工程实现高电导率的增强型GaN p型场效应晶体管。利用AlN/GaN超晶格中的自发和压电极化效应,显著增强了空穴载流子浓度与迁移特性,从而在常关型器件中实现了优异的导通性能。实验结果表明,极化诱导的二维空穴气有效调制了p型沟道电导,提升了器件的电流开关比和阈值电压稳定性。该策略为高性能GaN基互补电路的发展提供了可行路径。

解读: 该GaN p-FET极化增强技术对阳光电源的功率变换产品具有重要价值。通过AlN/GaN超晶格结构提升的载流子特性,可显著改善SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器中GaN器件的导通性能,有助于降低开关损耗。特别是在1500V高压系统中,该技术可提升GaN器件的可靠性和效率。同时,增强型p-FET的...

功率器件技术 ★ 2.0

Reliability Investigations, Machine Vision Recognition, and Artificial Intelligence-Driven Protective Circuit Design of Extreme Temperature Fluctuations on Orange AlInGaP Light-Emitting Diodes

Chun-Yen Yang · Yu-Tung Chen · Kun-Pu Lee · Yu-Tzu Chou 等13人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2026年1月 · Vol.73

This study investigates the stability and degradation of AlInGaP-based yellow light-emitting diodes (LEDs) subjected to extreme temperature cycling between $106~^{\circ }$ C and $- 196~^{\circ }$ C. Over 120 min, significant changes in electrical a...